Système équipé d’un controller Nanoscope IIIa pour la cartographie topographique, morphologique et mécanique. Fonctionnement à l'air ou dans un liquide et dans une gamme de température (20°C-100°C)

Plateforme complète pour :

  • Propriétés morphologiques et mécaniques de surfaces :Mesures de topographie, de rugosité standards et d’épaisseur de films, diversité de matériaux sans limite de taille ni d’épaisseur + Cartographie de propriétés d’adhésion, de déformation et de dissipation simultanément à la topographie.
  • Détermination du module d’Young local.
  • Propriétés électriques et mécanismes de transport de charges de matériaux (semi)conducteurs : cartographie locale de courant électrique, résistance, fonction de travail et potentiel de surface.
  • Haute résolution spatiale électrique. Sensibilité de mesures de courant < 100 fA. Mesures réalisées en environnement contrôlé.
  • Mesures intelligentes : Environnement contrôlé: liquides ou gaz inertes, contrôle en température de l’échantillon.
  • Intégration possible de nouveaux modes SPM
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