La Diffraction des Rayons X (DRX) permet d’identifier et de quantifier les différentes phases des matériaux cristallins, qu’ils soient massifs, sous forme de poudre ou de couches minces.

La figure qui résulte de la diffraction des rayons X par les atomes ou les molécules constituant un matériau est appelée diffractogramme. Elle se présente sous la forme d’une série de pics associés à des angles spécifiques de diffraction. La position de ces pics est directement reliée, par la loi de Bragg, à l’arrangement des atomes (distances interatomiques et entre les plans cristallins).

Une analyse fine du diffractogramme (largeur et forme des pics), notamment par la méthode de Rietveld, permet de déterminer la taille et la forme des cristallites ainsi que les contraintes et les déformations éventuelles du réseau cristallin.

Dans un mélange, la DRX permet de déterminer les différentes phases cristallines en présence. Il est également possible de mettre en évidence la présence d’une partie amorphe (non cristallisée).

Notre équipement peut être configurée de manière à travailler en incidence rasante afin de faire des analyses sur des films minces et de réaliser des mesures de réflectométrie (détermination des épaisseurs des couches minces).

  • Générateur : 3,3 kW
  • Tube à RX à anode Cu
  • Système de fentes automatiques en entrée et en sortie pour analyse d’une zone définie
  • Passeur de 15 échantillons (mode classique Bragg Brentano)
  • Détecteur proportionnel et détecteur PIXcel 1D
  • Résolution de 0,026°
  • Optiques en entrée pour faisceau convergent ou parallèle

Caractéristiques :

  • Identification et quantification des phases cristallines
  • Analyse des matériaux massifs, des poudres et des films minces (incidence rasante)
  • Taille des cristallites
  • Contraintes / déformation du réseau
  • Réflectométrie X
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