Analyses physico-chimiques & Spectroscopiques
Spectromètre optique de type ICP-OES
SPECTROMÉTRIE DE MASSE D’IONS SECONDAIRES À TEMPS DE VOL (TOF-SIMS)
Mesure de l’angle de contact – Analyse de la tension de surface
FTIR
TRIBOLAB (BRUKER)
Spectromètre micro-Raman Bruker Senterra
DIFFRACTION DES RAYONS X (DRX)
Micro-spectromètre IRTF
Microscope Electronique à Balayage (MEB )
Spectroscopie de Photoélectrons induits par rayons X (XPS)