Analyses de structure cristalline / caractérisations cristallographiques
Définition/objectifs recherchés:
La Diffraction des Rayons X (DRX) permet d’identifier et de quantifier les différentes phases des matériaux cristallins, qu’ils soient massifs, sous forme de poudre ou de couches minces.
La figure qui résulte de la diffraction des rayons X par les atomes ou les molécules constituant un matériau est appelée diffractogramme. Elle se présente sous la forme d’une série de pics associés à des angles spécifiques de diffraction. La position de ces pics est directement reliée, par la loi de Bragg, à l’arrangement des atomes (distances interatomiques et entre les plans cristallins).
Une analyse fine du diffractogramme (largeur et forme des pics), notamment par la méthode de Rietveld, permet de déterminer la taille et la forme des cristallites ainsi que les contraintes et les déformations éventuelles du réseau cristallin.
Dans un mélange, la DRX permet de déterminer les différentes phases cristallines en présence. I est également possible de mettre en évidence la présence d’une partie amorphe (non cristallisée).
Notre équipement peut être configurée de manière à travailler en incidence rasante afin de faire des analyses sur des films minces et de réaliser des mesures de réflectométrie (détermination des épaisseurs des couches minces).
Mesure de la performance (tests normes et équipements)
Identification et quantification des phases cristallines
Analyse des matériaux massifs, des poudres et des films minces (incidence rasante)
Taille des cristallites
Contraintes / déformation du réseau
Réflectométrie X
