FLUGZEIT-SEKUNDÄRIONEN-MASSENSPEKTROMETRIE (TOF-SIMS)

Mit ToF-SIMS kann die Elementar-, Isotopen- oder Molekularzusammensetzung an der äußersten Oberfläche von Proben (<1 nm Tiefe) mittels Massenspektrometrie genau bestimmt werden. Dank seiner hohen räumlichen Auflösung (50nm) und seiner hohen Empfindlichkeit (bis zu ppm) liefert es eine detaillierte Analyse der Oberfläche von polymeren, keramischen, metallischen oder halbleitenden Materialien.
Die molekularen Informationen aus ToF-SIMS werden verwendet, um die Familie der organischen Verbindungen zu bestimmen oder sogar bestimmte Moleküle (Verunreinigungen, Zusatzstoffe, ...) zu identifizieren, die auf der Oberfläche vorhanden sind, selbst wenn sie in winzigen Mengen (monomolekulare Schicht) vorhanden sind.
Neben der hochpräzisen Oberflächenanalyse ist die Anlage mit mehreren Profilierungskanonen ausgestattet, die zur Erstellung von Tiefenprofilen der Zusammensetzung über mehrere Mikrometer in den meisten Materialien verwendet werden.
Durch die Kombination der Verwendung des FIB (Focused Ion Beam) und der hochauflösenden Nanosonde von (50nm) ist es möglich, die Oberfläche von rauen Proben zu analysieren und sehr genaue chemische Kartierungen in 3D zu erstellen.

Diese Eigenschaften machen sie zu einem wichtigen Instrument für die Untersuchung der heutigen fortschrittlichen Materialien und für die Erfüllung Ihrer Anforderungen an die Charakterisierung und Fehlerbehebung in vielen Anwendungsbereichen, wie z. B. :

- Die Bestimmung der Ursache eines Haftungsproblems oder eines Defekts in einer Beschichtung,
- Die Identifizierung einer Oberflächenverschmutzung oder einer lokalisierten Verschmutzung an einer Grenzfläche,
- Die Validierung der (Bio-)Funktionalisierung der Oberfläche eines Implantats oder eines Sensors,
- Die Charakterisierung eines Stapels von Mikro-/Nanoschichten,
- Chemische Kartierung von Beschichtungen, Tabletten, Verbundmatrizen usw.