Mit einem Nanoscope IIIa-Controller ausgestattetes System zur topografischen, morphologischen und mechanischen Kartierung. Betrieb an Luft oder in einer Flüssigkeit und in einem Temperaturbereich von 20°C bis 100°C.

Stärke

  • Komplette Plattform für: Morphologische und mechanische Oberflächeneigenschaften: Topographie-, Standardrauhigkeits- und Filmdickenmessungen, Materialvielfalt ohne Größen- oder Dickenbegrenzung + Kartierung von Adhäsions-, Deformations- und Dissipationseigenschaften gleichzeitig mit der Topographie.
  • Bestimmung des lokalen Elastizitätsmoduls.
  • Elektrische Eigenschaften und Ladungstransportmechanismen von (halb-)leitfähigen Materialien: Lokale Kartierung von elektrischem Strom, Widerstand, Arbeitsfunktion und Oberflächenpotenzial.
  • Hohe elektrische räumliche Auflösung. Empfindlichkeit von Strommessungen < 100 fA. Messungen in kontrollierter Umgebung durchgeführt.
  • Intelligente Messungen: Kontrollierte Umgebung: Flüssigkeiten oder Schutzgas, Temperaturkontrolle der Probe.
  • Mögliche Integration von neuen SPM-Modi
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