Untersuchung von Kontaminationen, Fremdkörpern und Verschmutzungen (Staub, Partikel, Oberflächenfehler, …)
Definition/Zielsetzung:
Materia Nova verfügt über Geräte zur Analyse von Verunreinigungen bis in den Mikrometerbereich. Die Analysen können an der Oberfläche oder in der Tiefe durchgeführt werden (Profile, chemisches Mapping, FIB, usw.).
Die Schadstoffe können genau charakterisiert werden: elementare Beschaffenheit, molekulare Analysen, Morphologie, usw.
Leistungsmessung (Normen und Gerätetests)
- Die energiedispersive Röntgenspektrometrie (EDX) bietet in Verbindung mit der Rasterelektronenmikroskopie (REM) ein schnelles und effizientes Instrument zur Charakterisierung von Partikeln und Defekten bis zu einigen Zehntel Nanometern. Darüber hinaus kann die Analyse das Vorhandensein von chemischen Elementen aus Bor in jeder Art von Probe nachweisen: metallisch, mineralisch oder organisch.
Die Infrarot- und Raman-Mikroskopie sind leistungsstarke Instrumente zur Identifizierung organischer und anorganischer Komponenten.
Die Röntgenphotoelektronenspektrometrie (XPS) wird für die halbquantitative Elementanalyse eingesetzt. Mit dieser Technik kann auch der Oxidationszustand des Materials bestimmt werden.
-Vergleiche mit Referenzen können zur Identifizierung von Partikeln durchgeführt werden.
Unsere stärken
- Mit unseren Experten auf dem Gebiet der Werkstoffe unterstützen wir Hersteller bei der Identifizierung der Art und des Ursprungs eines Fehlers, um Korrektur- und Vorbeugungsmaßnahmen zu ergreifen.
- Eine breite Palette von Anwendungen: Mehrschichtprofil, Haftungsprobleme, Identifizierung von Verunreinigungen.